تطبيقات المجاهر المعدنية عبر القطاعات الصناعية المتنوعة
تم اشتقاق المجاهر المعدنية لأول مرة من علم المعادن. الغرض الأساسي منها هو مراقبة الهياكل المعدنية، مما يجعلها أدوات متخصصة مصممة حصريًا لفحص الهياكل المعدنية للأشياء غير الشفافة مثل المعادن والمعادن. لا يمكن ملاحظة هذه الأجسام المعتمة تحت المجهر الضوئي العادي؛ لذلك، فإن الاختلاف الرئيسي بين المجاهر المعدنية والمجاهر العادية يكمن في حقيقة أن الأول يستخدم الضوء المنعكس للإضاءة، بينما يعتمد الأخير على الضوء المنقول.
تتميز المجاهر الميتالوغرافية بثبات ممتاز، وتصوير واضح، ودقة عالية، ومجال رؤية كبير ومسطح. بالإضافة إلى المراقبة المجهرية من خلال العدسة، يمكنهم أيضًا عرض-صور ديناميكية في الوقت الحقيقي على شاشات الكمبيوتر (أو الكاميرا الرقمية). يمكن تحرير الصور المطلوبة وحفظها وطباعتها، مع التطبيقات الأساسية في مجالات مثل الأجهزة والأقسام المعدنية ومكونات IC وتصنيع شاشات الكريستال السائل/LED.
تم تجهيز المجاهر الميتالوغرافية بخمسة أنواع من العدسات الشيئية: EPI Brightfield Fluorescent، BD Brightfield/Darkfield، SLWD (مسافة عمل طويلة جدًا)، ELWD (مسافة عمل طويلة محسّنة)، وتلك التي تحتوي على طوق تصحيح. في صناعة الأجهزة، بالنسبة لأجزاء الأجهزة ذات الانعكاس الشديد، يمكن اختيار العدسات الموضوعية BD Brightfield/Darkfield للمراقبة. على سبيل المثال، في صناعة شاشات الكريستال السائل، عند مراقبة وقياس الجسيمات الموصلة، يمكن تجهيز المجاهر المعدنية بـ DIC (تباين التداخل التفاضلي) لتحقيق المزيد من التصوير ثلاثي الأبعاد-. تستخدم DIC تقنية الاستقطاب-تشكل مرشحات الاستقطاب المقترنة نظام مراقبة مجهري مستقطب. واستنادًا إلى خصائص الأجسام ثنائية الانكسار، فإنه يغير المسار البصري بشكل اتجاهي. ومع ذلك، فإن الاستقطاب لا يكون ذا معنى إلا عند استخدامه بالتزامن مع مدينة دبي للإنترنت؛ فهو لا يخدم أي غرض عملي وحده. عند استخدام المجاهر المعدنية لقياس وتحليل الأجسام الصغيرة -مثل مكونات IC ومقاطع علم المعادن، يمكن استخدام البرنامج الذكي Iview-DIMS.
يوفر هذا البرنامج دقة عالية، مما يقلل بشكل فعال من أخطاء القياس البشرية. إنه سهل التعلم والاستخدام، مما يتيح القياس والتحليل الدقيق للأبعاد ذات الصلة مثل النقاط والخطوط والأقواس وأنصاف الأقطار والأقطار والزوايا. كما أنه يدعم سهولة التقاط صور القياس وتخصيص تقارير الاختبار المختلفة.
