عدة طرق شائعة لقياس التسطيح لمقياس المستوى
التسطيح هو أحد التفاوتات الهندسية ، والتي تشير إلى انحراف الارتفاع المقعر والمحدب الكلي على سطح الكائن عن المستوى المثالي. في طرق الكشف التقليدية ، يشمل قياس التسطيح عادةً: طريقة قياس مقياس السدادة / طريقة قياس مقياس المحسس ، وطريقة مستوى السائل ، وطريقة قياس مقياس التداخل بمستوى الليزر (طريقة قياس التداخل البلوري المسطح) ، وطريقة قياس المستوى / مقياس المستوى الرقمي ، وقانون قياس العداد.
تحتاج طريقة قياس المحسس فقط إلى مجموعة من مقاييس المحسس المحمولة لإجراء قياس تقريبي للتسطيح في أي وقت وفي أي مكان. في الوقت الحاضر ، لا تزال العديد من المصانع تستخدم هذه الطريقة في الكشف. نظرًا لدقتها المنخفضة ، فإن أنحف مقياس محسس تقليدي هو 10 ميكرومتر ، وكفاءة الكشف منخفضة ، والنتيجة ليست شاملة بما فيه الكفاية ، ويمكن اكتشاف حافة الجزء فقط.
طريقة مستوى السائل ، بناءً على مبدأ عمل الموصل ، مناسبة لقياس تسطيح الطائرات الكبيرة المستمرة أو المتقطعة ، ولكنها تستغرق وقتًا طويلاً للقياس وحساسة لدرجة الحرارة ، لذلك فهي مناسبة فقط للطائرات ذات المستوى المنخفض. دقة القياس.
طريقة قياس التداخل المستوي بالليزر ، الاستخدام الأكثر شيوعًا هو قياس التداخل البلوري المسطح. ولكنها تستخدم بشكل أساسي لقياس المستويات الصغيرة الملساء ، مثل سطح قياس الميكرومتر ، وسطح عمل المقياس ، والعدسة البصرية.
يتم استخدام طريقة قياس المستوى على نطاق واسع في قياس الاستقامة والتسطيح لسطح قطعة العمل. دقة قياس عالية ، استقرار جيد ، حجم صغير ، يسهل حملها. ومع ذلك ، عند استخدام هذه الطريقة للقياس ، من الضروري تحريك موضع الجهاز بشكل متكرر وتسجيل بيانات كل نقطة قياس ، والتي تستغرق وقتًا طويلاً ، وشاقة ، ووقت تعديل طويل ، كما أن إجراء معالجة البيانات مرهق.
التطبيق النموذجي لطريقة قياس العداد هو ميكرومتر مسطح وأداة ثلاثية الإحداثيات ، من بينها أداة الإحداثيات الثلاثة هي الأكثر استخدامًا. أثناء القياس ، يتحرك المؤشر على العينة المراد اختبارها ، ويتم قياس بيانات كل نقطة قياس بالنسبة إلى مرجع القياس وفقًا لنقاط التخطيط المختارة ، ثم يتم تقييم خطأ التسطيح من خلال معالجة البيانات. لكن كفاءتها منخفضة ، وعادة ما تستغرق العينة عدة دقائق ، بعيدًا عن توقع 15 جزء في المليون.
