+86-18822802390

اتصل بنا

  • الهاتف: +8618822802390

  • البريد الإلكتروني-:admin@gvda-instrument.com

  • واتساب: 8618822802390

  • إضافة: غرفة 610-612، مبنى هواتشوانغدا التجاري، المنطقة 46، طريق كويزو، شارع شينان، باوان، شنتشن

مقدمة لطريقة اختبار المتر المتعدد

Feb 19, 2024

مقدمة لطريقة اختبار المتر المتعدد

 

1. طريقة الكشف عن مقاومة التيار المستمر داخل الدائرة
هذا نوع من توقف أوم متعدد المقاييس، مباشرة على لوحة الدائرة لقياس قيمة مقاومة التيار المستمر الموجبة والسالبة لدبابيس IC والمكونات الطرفية، ومقارنتها بالبيانات العادية، للعثور على طريقة الخطأ وتحديدها. ويجب ملاحظة النقاط الثلاث التالية عند القياس:


(1) افصل مصدر الطاقة قبل القياس لتجنب إتلاف جهاز القياس والمكونات أثناء الاختبار.


(2) لا ينبغي أن يكون الجهد الداخلي لكتلة المقاوم متعدد المقاييس أكبر من 6 فولت، ويفضل أن يكون النطاق R×100 أو R×1k.


(3) عند قياس معلمات دبوس IC، انتبه إلى ظروف القياس، مثل النموذج المقاس، والموضع المنزلق لمقياس الجهد المتعلق بـ IC، وما إلى ذلك، ولكن ضع في اعتبارك أيضًا مكونات الدائرة الطرفية.


2. طريقة قياس جهد التشغيل بالتيار المستمر
هذا هو نوع ما في حالة الطاقة، مع كتلة جهد تيار مستمر متعدد المقاييس على جهد إمداد التيار المستمر، والمكونات الطرفية لقياس جهد العمل؛ الكشف عن دبابيس IC إلى قيمة جهد التيار المستمر الأرضي، ومقارنتها بالقيمة العادية، ثم ضغط نطاق الخطأ، لمعرفة المكونات التالفة. يجب أن ينتبه القياس إلى النقاط الثمانية التالية:


(1) يجب أن يتمتع المقياس المتعدد بمقاومة داخلية كبيرة بدرجة كافية، أكبر بـ 10 مرات على الأقل من مقاومة الدائرة قيد الاختبار، حتى لا يسبب أخطاء قياس كبيرة.


(2) عادةً ما يتم تحويل كل مقياس جهد إلى الموضع الأوسط، وإذا كان جهاز تلفزيون، فيجب أن يكون مصدر الإشارة عبارة عن مولد إشارة شريط ألوان قياسي.


(3) يجب أن يتخذ قلم القياس أو المسبار إجراءات مضادة للانزلاق. بسبب أي ماس كهربائى لحظي من السهل إتلاف IC. يمكنك اتباع الطريقة التالية لمنع انزلاق قلم الطاولة: خذ جزءًا من قلب صمام الدراجة مثبتًا على طرف قلم الطاولة، وطويلًا من طرف قلم الطاولة حوالي 0.5 مم أو نحو ذلك، والذي يمكن أن يجعل طرف قلم الطاولة على اتصال جيد بنقطة الاختبار، ولكنه فعال أيضًا في منع الانزلاق، حتى لو لامس النقاط المجاورة فلن يتم قصر الدائرة.


(4) عندما لا يتطابق قياس جهد الدبوس مع القيمة العادية، يجب أن يعتمد جهد الدبوس على التشغيل العادي لـ IC وليس له تأثير كبير على جهد الدبوس الآخر والتغيير المقابل في التحليل، من أجل تحديد IC جيدة وسيئة.


(5) سوف يتأثر جهد دبوس IC بالمكونات الطرفية. عندما تتسرب المكونات الطرفية، أو ماس كهربائى، أو دائرة مفتوحة أو تغير في القيمة، أو يتم توصيل الدائرة الطرفية بمقياس الجهد بمقاومة متغيرة، فإن الذراع المنزلق لمقياس الجهد في وضع مختلف، سيؤدي إلى تغيير جهد الدبوس.


(6) إذا كان جهد طرف IC طبيعيًا، فمن المعتقد بشكل عام أن IC طبيعي؛ إذا كان جزء IC من جهد الدبوس غير طبيعي، فيجب أن يبدأ من أكبر انحراف عن القيمة الطبيعية، للتحقق من عدم وجود خطأ في المكونات الطرفية، وإذا لم يكن هناك خطأ، فمن المحتمل أن تتلف IC.


(7) بالنسبة لأجهزة الاستقبال الديناميكية، مثل أجهزة التلفزيون، في وجود أو عدم وجود إشارة، يختلف جهد دبوس IC. إذا وجدت أن جهد الدبوس لا ينبغي أن يتغير بدلاً من التغييرات الكبيرة، وحجم الإشارة والمكونات القابلة للتعديل بمواضع مختلفة وتغييرات بدلاً من التغييرات، فيمكنك تحديد تلف IC.


(8) بالنسبة لمجموعة متنوعة من أوضاع تشغيل الجهاز، مثل مسجلات الفيديو، في أوضاع التشغيل المختلفة، يختلف جهد طرف IC أيضًا.


3. طريقة قياس جهد التشغيل بالتيار المتردد
من أجل فهم التغييرات في إشارة التيار المتردد IC، يمكنك استخدام مقياس متعدد مع مقبس ديسيبل لتقريب قياس جهد تشغيل التيار المتردد لدائرة IC. الكشف عن المقياس المتعدد الموجود في كتلة جهد التيار المتردد، وإدخال القلم الموجب في مقبس الديسيبل؛ بالنسبة للمقياس المتعدد بدون مقبس ديسيبل، هناك حاجة إلى القلم الموجب على التوالي مع مكثف عزل {{0}}.1 ~ 0.5μF. تنطبق هذه الطريقة على الدوائر المتكاملة ذات تردد التشغيل المنخفض نسبيًا، مثل مرحلة تضخيم الفيديو للتلفزيون ودوائر المسح الميداني وما إلى ذلك. نظرًا للتردد المتأصل لهذه الدوائر، تختلف الأشكال الموجية المختلفة، وبالتالي فإن البيانات المقاسة هي تقريبية، للإشارة فقط.


4. إجمالي طريقة القياس الحالية
تهدف هذه الطريقة إلى اكتشاف التيار الإجمالي لمصدر طاقة IC في الخط، لتحديد ما إذا كانت طريقة IC جيدة أم سيئة. نظرًا للغالبية العظمى من الاقتران المباشر الداخلي لـ IC، فإن تلف IC (مثل انهيار وصلة PN أو الدائرة المفتوحة) سوف يتسبب في تشبع وقطع المرحلة الخلفية، بحيث يتغير إجمالي التيار. لذلك من خلال قياس الطريقة الحالية الإجمالية يمكن الحكم على IC بأنه جيد أو سيئ. يمكن استخدامه أيضًا لقياس انخفاض جهد المقاوم في مسار مصدر الطاقة، باستخدام قانون أوم لحساب القيمة الإجمالية للتيار.

 

2 Digital multimeter color lcd -

إرسال التحقيق