كيفية استخدام المتر المتعدد لاختبار شرائح الذاكرة
يوجد 64 منفذ بيانات على اللوحة الأم والذاكرة، D0-D63. من أجل حماية منافذ البيانات في الذاكرة، تتم إضافة مقاومة (10 أوم) بدون قيمة مقاومة إلى منافذ البيانات الـ 64 D0-D63 للحد من التيار. تأثير. المبدأ الرئيسي للاختبار هو استخدام البرنامج لاختبار كل دبوس بت بيانات في شريحة الذاكرة بشكل متكرر لمعرفة ما إذا كان هناك أي عطل أو دبوس بت بيانات قصير الدائرة، بالإضافة إلى دبوس الساعة ودبوس العنوان للرقاقة.
لذلك، عند استخدام مقياس متعدد لاختبار الشريحة، يمكنك أيضًا استخدام طريقة الاختبار لقياسها. وطالما أن القلم الأحمر متصل بالأرض (دبوس 1)، فإن القلم الأسود يقيس قيمة مقاومة مقاومة الكاثود، وهي قيمة مقاومة بت البيانات لشريحة الذاكرة لتحديد الشريحة المكسورة. عادةً ما تكون قيمة مقاومة كل بتات البيانات هي نفسها. لكنها لا تزال غير بديهية مثل المختبر. يمكن استخدام هذه الطريقة لقياس جودة شرائح ذاكرة DDR.
وفقا لدليل التعليمات، الذاكرة المقاسة موجودة في 2A و2B، وهو ما يعني مجموعة واحدة ومجموعة مزدوجة. ولكن هناك 8 16-شرائح بت، والتي تعادل مجموعتين، و16 8-شرائح بت تعادل أيضًا مجموعتين.
2A هي المجموعة الأولى و2B هي المجموعة الثانية.
أثناء القياس، سيتم اختبار دبابيس البيانات لكل شريحة في كل مجموعة بشكل دوري. بشكل عام، من الجيد إذا لم يتم كسره بعد 3 مرات إلى 5 مرات. الشريحة الجيدة هي: تمرير. تُظهر الرقائق السيئة دبابيس بت بيانات سيئة.
1. إذا تعذر إجراء الاختبار بعد التشغيل، فهناك بشكل عام: دائرة كهربائية قصيرة للرقاقة، دائرة كهربائية قصيرة للوحة PCB. الحل هو إزالة الشريحة واستبدالها بلوحة PCB جيدة لاختبار ما إذا كانت الشريحة جيدة أم لا لمعرفة ما هي المشكلة.
2. لا يختبر جهاز اختبار الذاكرة شريحة SPD، ورقاقة SPD اختيارية
3. إذا احترق إصبع الذهب فلا يمكن اختباره. يجب إزالة الشريحة واستبدالها على لوحة PCB جيدة لاختبار ما إذا كانت الشريحة جيدة أم سيئة.
