كيفية استخدام المتر المتعدد لقياس وحدة IGBT؟
I. الحكم على القطبية
أولاً، اضبط المقياس المتعدد على ترس R×1K. عند القياس بالمقياس المتعدد، إذا كانت المقاومة بين قطب واحد والقطبين الآخرين لا نهائية، والمقاومة بين هذا القطب والقطبين الآخرين لا تزال لا نهائية بعد عكس خيوط الاختبار، فسيتم الحكم على هذا القطب بأنه البوابة (G). ثم قم بقياس القطبين المتبقيين بالمقياس المتعدد. إذا كانت المقاومة المقاسة لا نهائية، وكانت المقاومة أصغر بعد عكس خيوط الاختبار. في القياس بقيمة مقاومة أصغر، يعتبر القطب المتصل بسلك الاختبار الأحمر هو المجمع (C)، والقطب المتصل بسلك الاختبار الأسود هو الباعث (E).
ثانيا. الحكم على الجودة
اضبط المقياس المتعدد على ترس R×10K. قم بتوصيل سلك الاختبار الأسود بالمجمع (C) الخاص بـ IGBT وسلك الاختبار الأحمر بالباعث (E) الخاص بـ IGBT. في هذا الوقت، يكون مؤشر المقياس المتعدد عند موضع الصفر. المس البوابة (G) والمجمع (C) بأصابعك في نفس الوقت. في هذا الوقت، يتم تشغيل IGBT للتشغيل، ويتأرجح مؤشر المتر المتعدد نحو اتجاه المقاومة الأصغر ويمكن أن يتوقف عند موضع معين. ثم المس البوابة (G) والباعث (E) بأصابعك في نفس الوقت. في هذا الوقت، يتم حظر IGBT، ويعود مؤشر المقياس المتعدد إلى الصفر. في هذا الوقت، يمكن الحكم على أن IGBT في حالة جيدة.
ثالثا. يمكن استخدام أي مقياس متعدد من نوع -للكشف عن IGBT
عند الحكم على جودة IGBT، تأكد من ضبط المقياس المتعدد على ترس R×10K. نظرًا لأن جهد البطارية الداخلي للمقياس المتعدد في التروس أقل من R×1K منخفض جدًا، فلا يمكن تشغيل IGBT أثناء اكتشاف جودته، ومن المستحيل الحكم على جودة IGBT. يمكن أيضًا استخدام هذه الطريقة للكشف عن جودة الترانزستورات ذات تأثير مجال الطاقة (P-MOSFET).
الكشف عن وحدات IGBT في العاكسات:
اضبط المقياس الرقمي المتعدد على جهاز اختبار الصمام الثنائي، واختبر خصائص الصمام الثنائي الأمامي والخلفي بين c1 وe1 وc2 وe2 لوحدة IGBT، وكذلك بين البوابة G وe1 وe2 لتحديد ما إذا كانت وحدة IGBT في حالة جيدة.
خذ وحدة مكونة من ستة-مرحلة كمثال. قم بإزالة أسلاك المراحل U وV وW من جانب التحميل. استخدم معدات اختبار الصمام الثنائي. قم بتوصيل سلك الاختبار الأحمر بـ P (المجمع c1) وسلك الاختبار الأسود بـ U وV وW بدوره. القيمة المعروضة على المقياس المتعدد هي الحد الأقصى. اعكس خيوط الاختبار، وقم بتوصيل سلك الاختبار الأسود إلى P، وسلك الاختبار الأحمر إلى U وV وW. القيمة المعروضة على المقياس المتعدد هي حوالي 400. ثم قم بتوصيل سلك الاختبار الأحمر إلى N (الباعث e2)، وسلك الاختبار الأسود إلى U وV وW. القيمة المعروضة على المقياس المتعدد هي حوالي 400. قم بتوصيل سلك الاختبار الأسود إلى P، وسلك الاختبار الأحمر إلى U وV وW. القيمة المعروضة على المقياس المتعدد هي القيمة القصوى. يجب أن تكون الخصائص الأمامية والخلفية بين كل مرحلة هي نفسها. إذا كانت هناك اختلافات، فهذا يشير إلى أن أداء وحدة IGBT قد تدهور ويجب استبداله. عند تلف وحدة IGBT، لن يحدث سوى حالة العطل وقصر الدائرة الكهربائية.
استخدم خيوط الاختبار الحمراء والسوداء لقياس الخصائص الأمامية والخلفية بين البوابة G والباعث E على التوالي. إذا كانت القيم التي تم قياسها بواسطة جهاز القياس المتعدد مرتين هي الحد الأقصى، فيمكن تحديد أن بوابة وحدة IGBT طبيعية. إذا تم عرض قيمة، فهذا يشير إلى تدهور أداء البوابة، ويجب استبدال هذه الوحدة. عندما تكون نتائج الاختبار الأمامي والخلفي صفرًا، فهذا يعني أن بوابة الطور المكتشف قد تم كسرها وقصر الدائرة -. عند تلف البوابة، سيتم أيضًا كسر وتلف أنبوب منظم الجهد الموجود على لوحة الدائرة والذي يحمي البوابة.
