كيفية استخدام المتر المتعدد لاختبار شرائح الذاكرة
يوجد 64 منفذ بيانات على اللوحة الأم والذاكرة، D0-D63. من أجل حماية منافذ البيانات في الذاكرة، تتم إضافة مقاومة (10 أوم) بقيمة مقاومة مختلفة إلى جميع منافذ البيانات الـ 64 في D0-D63 للحد من التيار. المبدأ الرئيسي للاختبار هو الاختبار المتكرر لكل دبوس بت بيانات في شريحة الذاكرة باستخدام برنامج لمعرفة ما إذا كان هناك أي دبابيس بت بيانات مكسورة أو قصيرة الدائرة، بالإضافة إلى دبوس الساعة ودبوس العنوان للرقاقة.
لذا، عند استخدام مقياس متعدد لاختبار شريحة ما، يمكن أيضًا استخدام جهاز اختبار لقياسها. طالما أن القلم الأحمر متصل بالأرض (دبوس واحد) ويتم استخدام القلم الأسود لقياس مقاومة المقاومة السلبية، فإن قيمة مقاومة بت بيانات شريحة الذاكرة هي التي تحدد الشريحة المعيبة. عادة، تكون قيمة المقاومة لكل بت بيانات هي نفسها. لكنها لا تزال غير بديهية مثل الاختبار، ويمكن لهذه الطريقة قياس جودة شرائح ذاكرة DDR.
وفقا لدليل المستخدم، الذاكرة المقاسة هي 2A و2B، وهو ما يعني مجموعة واحدة ومجموعة مزدوجة. ولكن هناك 8 16 شرائح بت، أي ما يعادل مجموعتين، و16 8-رقائق بت تعادل أيضًا مجموعتين.
2A هي المجموعة الأولى، و2B هي المجموعة الثانية.
أثناء القياس، سيتم اختبار دبابيس البيانات لكل شريحة في كل مجموعة بشكل دوري. من الجيد بشكل عام أن يتم اختباره 3-5 مرات دون أي ضرر. الشريحة الجيدة هي PASS. تعرض الشريحة المعيبة دبابيس بت البيانات الخاطئة.
1. غير قادر على إجراء اختبار القفز عند بدء التشغيل، والذي يتضمن عادةً دائرة قصر للرقاقة ودائرة قصر للوحة PCB. الحل هو إزالة الشريحة واستبدالها بلوحة PCB جيدة لاختبار جودة الشريحة ومعرفة ما هي المشكلة.
2. لا يختبر جهاز اختبار الذاكرة رقائق SPD، فرقائق SPD اختيارية
3. إذا احترق الإصبع الذهبي فلا يمكن اختباره. يجب إزالة الشريحة واستبدالها بلوحة PCB جيدة لاختبار جودتها
