خمس طرق ملاحظة شائعة للميكروسكوب
1. طريقة المجال الساطع
طريقة لرصد الضوء المنعكس مباشرة من عينة. يسقط الضوء المنبعث على العينة من خلال هدف محاذاة رأسياً ، ويتم ملاحظة الضوء المنعكس المباشر من العينة من خلال الهدف.
2. طريقة المجال المظلم
مراقبة طرق تجفيف العينة التي تتضمن الضوء المنعرج. يسقط ضوء الإضاءة بشكل غير مباشر على العينة من خلال محيط العدسة الموضوعية ، ويلاحظ الضوء الجاف من العينة أثناء ملاحظة الضوء المنعرج.
مثالية لاكتشاف الخدوش الصغيرة أو الشقوق على العينات وفحص الأسطح الشبيهة بالمرايا للعينات مثل الرقاقات.
3. طريقة الضوء المستقطب
هذه تقنية مراقبة مجهرية تستخدم الضوء المستقطب المكون من مجموعتين من مرشحات الألوان (مستقطب الكشف والمستقطب). دائمًا ما تكون محاور الاستقطاب هذه متعامدة مع بعضها البعض. تظهر بعض العينات تباينًا حادًا بين المرشِّحين. أو التعبير عن اللون بناءً على خصائص الانكسار والاتجاه (أي عينات مصقولة من هياكل الزنك). عندما يتم إدخال المحلل في مسار ضوء المراقبة أمام العدسة ، يكون المستقطب في مسار الضوء أمام المصباح العمودي.
وهي مناسبة لمراقبة البنية المعدنية (أي نمط نمو الجرافيت لحديد الدكتايل) والمعادن والبلور السائل (LCD) ومواد أشباه الموصلات.
4. طريقة تباين التداخل التفاضلي
هذه تقنية مراقبة مجهرية تقوم بتغيير ارتفاع التباين إلى صورة مجسمة أو ثلاثية الأبعاد باستخدام طريقة المجال الساطع التي قد لا يتم ملاحظتها بواسطة طريقة المجال الساطع. يتم تغيير ضوء الإضاءة من منشور تباين التداخل التفاضلي إلى مصباحين منحرفين. يؤدي الاختلاف في ارتفاع العينة الناجم عن المصباحين المنعرجين إلى اختلاف بسيط في مسار الضوء ، ويصبح الاختلاف في مسار الضوء هو التباين بين منشور التباين والمحلل باستخدام قياس التداخل التفاضلي.
يتم إعادة استخدام العينات الحساسة لتحسين الانحرافات اللونية شديدة التغير.
إنها مناسبة لاختبار العينات مع اختلافات ارتفاع عالية الدقة للغاية ، بما في ذلك الهياكل المعدنية ، والمعادن ، والرؤوس المغناطيسية ، وأسطح القرص الصلب ، والأسطح المكررة.
5. طريقة الإسفار
تستخدم هذه التقنية للعينات التي تتألق.
إنها مناسبة للكشف عن تلوث الرقاقة ، الراتنج المتبقي الحساس للضوء ، واكتشاف الشقوق بطريقة التألق.
